|
|
Optoelektronické vlastnosti organických polovodičů
Navrátil, Jiří ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Kratochvílová, Irena (oponent) ; Weiter, Martin (vedoucí práce)
Hlavním cílem této práce je studium a charakterizace optických a optoelektronických vlastností organických polovodičových materiálů. V úvodu této práce je ukázán rostoucí zájem o tyto materiály a jejich praktické využití. V teoretické části je prezentován současný stav poznání studované problematiky se zaměřením na optické jevy a transport nosičů náboje v organických polovodičích, fotochromní jevy v molekulárním reversibilním spínači a přenos náboje v biopolymerní matrici DNA. Experimentální část, která je tvořena vybranými publikovanými pracemi autora, zahrnuje studium transportu náboje, fotochromního reversibilního spínání a vlivu dopantu na transport v pi-konjugovaném organickém polymerním systému. K charakterizaci organických polovodičů bylo využito vodivostních a fotovodivostních technik a měření optických charakteristik doplňující samotná elektrická měření.
|
|
|
Plazmochemická depozice tenkých fluorocarbonových vrstev
Veverková, Radka ; Přikryl, Radek (oponent) ; Krčma, František (vedoucí práce)
Depozice tenkých vrstev je jednou z nejrozšířenějších aplikací pro změnu povrchových vlastností nejrůznějších materiálů. Tato diplomová práce se zabývá diagnostikou tenkých vrstev, které vznikly technikou PECVD. Pro depozici tenkých vrstev bylo využito kapacitně vázaného RF plazmatu za sníženého tlaku. Jako prekurzor byl použit tetrafluormetan (CF4) s příměsí vodíku (H2). Cílem práce bylo nalézt optimální podmínky pro vytvoření hydrofobní tenké vrstvy na povrchu polymeru NOA. Depozice byly prováděny v kontinuálním i pulzním režimu výboje s různou střídou. Depoziční proces byl monitorován pomocí optické emisní spektroskopie a in situ hmotnostní spektrometrie. Vytvořené tenké vrstvy byly charakterizovány pomocí měření kontaktního úhlu, rentgenové fotoelektronové spektroskopie, infračervené spektroskopie a optické elipsometrie. Byly sledovány vlivy použitého režimu výboje a výkonu a složení směsí reakčních plynů. Kontaktní úhel byl nejvyšší pro depozice v kontinuálním režimu. Pomocí hmotnostní spektrometrie a optické emisní spektrokopie byly sledovány rozkladné procesy uvnitř reaktoru. Rentgenová fotoelektronová spektroskopie poskytla údaje o chemických vazbách zastoupených na povrchu vzorku. Byly to především skupiny C – C/C – H, C – O, O = C – O pro vzorek bez vrstvy. Po depozici se objevily také další vazby a to C – CF, CF2, CF3. Elipsometricky byla zjištěna tloušťka tenké vrstvy okolo 8,2 nm. Zjištěné výsledky lze použít jako základ pro další, rozšířené studium problematiky plazmochemicky připravených tenkých fluorokarbonových vrstev a jejich vlastností.
|
|
|
Optoelektronické vlastnosti organických polovodičů
Navrátil, Jiří ; Boušek, Jaroslav (oponent) ; Kratochvílová, Irena (oponent) ; Weiter, Martin (vedoucí práce)
Hlavním cílem této práce je studium a charakterizace optických a optoelektronických vlastností organických polovodičových materiálů. V úvodu této práce je ukázán rostoucí zájem o tyto materiály a jejich praktické využití. V teoretické části je prezentován současný stav poznání studované problematiky se zaměřením na optické jevy a transport nosičů náboje v organických polovodičích, fotochromní jevy v molekulárním reversibilním spínači a přenos náboje v biopolymerní matrici DNA. Experimentální část, která je tvořena vybranými publikovanými pracemi autora, zahrnuje studium transportu náboje, fotochromního reversibilního spínání a vlivu dopantu na transport v pi-konjugovaném organickém polymerním systému. K charakterizaci organických polovodičů bylo využito vodivostních a fotovodivostních technik a měření optických charakteristik doplňující samotná elektrická měření.
|
|
|
Plazmochemická depozice tenkých fluorocarbonových vrstev
Veverková, Radka ; Přikryl, Radek (oponent) ; Krčma, František (vedoucí práce)
Depozice tenkých vrstev je jednou z nejrozšířenějších aplikací pro změnu povrchových vlastností nejrůznějších materiálů. Tato diplomová práce se zabývá diagnostikou tenkých vrstev, které vznikly technikou PECVD. Pro depozici tenkých vrstev bylo využito kapacitně vázaného RF plazmatu za sníženého tlaku. Jako prekurzor byl použit tetrafluormetan (CF4) s příměsí vodíku (H2). Cílem práce bylo nalézt optimální podmínky pro vytvoření hydrofobní tenké vrstvy na povrchu polymeru NOA. Depozice byly prováděny v kontinuálním i pulzním režimu výboje s různou střídou. Depoziční proces byl monitorován pomocí optické emisní spektroskopie a in situ hmotnostní spektrometrie. Vytvořené tenké vrstvy byly charakterizovány pomocí měření kontaktního úhlu, rentgenové fotoelektronové spektroskopie, infračervené spektroskopie a optické elipsometrie. Byly sledovány vlivy použitého režimu výboje a výkonu a složení směsí reakčních plynů. Kontaktní úhel byl nejvyšší pro depozice v kontinuálním režimu. Pomocí hmotnostní spektrometrie a optické emisní spektrokopie byly sledovány rozkladné procesy uvnitř reaktoru. Rentgenová fotoelektronová spektroskopie poskytla údaje o chemických vazbách zastoupených na povrchu vzorku. Byly to především skupiny C – C/C – H, C – O, O = C – O pro vzorek bez vrstvy. Po depozici se objevily také další vazby a to C – CF, CF2, CF3. Elipsometricky byla zjištěna tloušťka tenké vrstvy okolo 8,2 nm. Zjištěné výsledky lze použít jako základ pro další, rozšířené studium problematiky plazmochemicky připravených tenkých fluorokarbonových vrstev a jejich vlastností.
|
|
| |
|
|
Determination of mechanical properties from microcompression test
Truhlář, Michal ; Kruml, Tomáš ; Kuběna, Ivo ; Petráčková, Klára ; Náhlík, Luboš
This paper describes a microcompression test of Al - 1.5 wt. % Cu thin film deposited on Si substrate. Microcompression combines the sample preparation with the use of ion focused beam (FIB) with a compression test carried out using nanoindenter. Cylindrical specimens (pillars) were prepared using FIB. The diameter of pillars was about 1.3 μm and their height was about 2 μm (equal to the film thickness). Stress-strain curves of the thin film were obtained. The results depend on crystallographic orientation of pillar. The paper is focused to an attempt to determine as precisely as possible Young modulus of the film using experimental data and finite element modelling.
|
|
|
Estimation of mechanical properties of thin Al surface layer
Petráčková, Klára ; Kuběna, Ivo ; Truhlář, Michal ; Náhlík, Luboš ; Kruml, Tomáš
The paper describes a new method for testing of thin layers, so-called microcompression test. As an example determination of Al thin film properties deposited on Si substrate is introduced in the paper. Microcompression combines the sample preparation with the use of focused ion beam (FIB) with a compression test carried out using nanoindenter. Cylindrical specimens (pillars) were prepared in Al film using FIB. The typical diameter of pillars was about 1.3 μm and their height was about 2 μm. The results depend on crystallographic orientation of pillar. Stress-strain curves of the thin film were obtained. Experimentally measured data on pillars needs correction to obtain undistorted material properties of Al thin film. A necessary correction using finite element modeling is suggested in the paper. The paper contributes to a better characterization of very thin surface layers and determination of their mechanical properties.
|
host ::
RSS.